METROTOM 800 320 kVは、高密度材料の複雑な部品を高速かつ高精度に測定し、品質管理のコスト削減を実現する最新のX線CTシステムとして、2026年9月1日より本格的なプロモーションが開始されました。
METROTOM 800 320 kVの概要
ZEISS METROTOM 800 320 kVは、高密度かつ複雑な構造を持つ部品のスキャンに特化した最先端のCTシステムです。高速スキャンと高解像度の両立により、品質保証プロセスの効率を大幅に高めます。
プロモーション開始日：2026年9月1日
対象部品：最大高さ470 mm、直径500 mm、重量50 kgまで
スキャン性能と生産性
強力な320 kVのX線源と最適化されたシステム設計により、従来のMETROTOMシステムと比較してスキャン時間を最大75％短縮します。また、X線管の運転を継続できるためクールダウンによるダウンタイムを最小限に抑え、処理量の大幅な増加を可能にしました。
高精度な品質保証
最小焦点サイズ7 μmの優れた画像品質により、VDI/VDE 2630 1.3規格やJIS B 7440-11規格に準拠した信頼性の高い測定が可能です。医療用インプラントや電気自動車の重要部品、積層造形品の分析など、厳格な品質管理が求められる分野で競争力を発揮します。
直感的な操作とAI支援
データ取得から分析までを一元管理するソフトウェア「ZEISS INSPECT X-Ray」を搭載し、導入に伴う教育負荷を軽減します。さらに、AIを活用した「ZEISS Automated Defect Detection (ZADD)」モジュールにより、欠陥の自動検出が可能なためオペレーターの負担を最小化します。
今後の展示と導入予定
2026年9月2日〜4日に幕張メッセで開催される「JASIS 2026」にて、本装置のアプリケーションやソリューションが紹介されます。また、2027年1月に正式オープンを予定している「Quality Excellence Center Osaka」に実機が導入され、デモンストレーションが実施される予定です。
関連リンク
https://www.zeiss.co.jp/metrology/systems/x-ray/3d-x-ray/metrotom-800-320-kv.html
https://www.zeiss.co.jp/metrology
まとめ
METROTOM 800 320 kVは、スキャン時間の短縮と高精度な測定を両立し、多様な産業分野における品質管理の効率化を強力にサポートします。