カールツァイス、薄膜試料の全自動作製に特化した電子顕微鏡「ZEISS Cross...
透過電子顕微鏡(TEM)用薄膜試料の全自動作製に特化した集束イオンビーム走査電子顕微鏡「ZEISS Crossbeam 550 Samplefab」が、カールツァイスより日本市場に投入されます。製品概要製品名: ZEISS Crossbeam 550 Samplefab投入日: 発表済み製品URL: https://www.zeiss.com/microscopy/ja/products/sem-fib-sem/fib-sem/crossbeam-550-samplefab.htmlZEISSテクニ...

